美国TSI公司圆满完成赞助第八届激光诱导击穿光谱国际会议

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　　美国TSI公司于2014年9月8日至12日赞助并参加了由清华大学热能系在清华主楼主办的第八届激光诱导击穿光谱国际会议。

　　TSI美国总公司副总裁Kevin Krause亲自带领TSI美国及中国LIBS团队参加了此次会议，会晤了清华大学与美国TSI公司在煤质快速分析仪开发项目上的合作方，并于TSI展台上接受了仪器仪表信息网的有关LIBS技术及产品应用的独家专访。TSI的资深专家Amy Bauer和Steve Buckley分别在大会上做了主题报告。

　　美国TSI公司于展台上展示了最新推出的新一代的ChemLogixTM系列元素分析解决方案产品线中的第一款产品：ChemRevealTM型台式激光诱导击穿光谱仪。其配备了先进的ChemLyticsTM等离子体发射光谱分析和元素分析软件，大大简化了复杂的元素分析过程，对每一个固体样品矩阵里的广泛的元素进行直接鉴定和分析。事实上，这个强大的全新的解决方案提供了对包括粉末，非晶或非导电材料固体样品中的有机物，轻元素，重元素进行同时表征，而且不需要繁琐的有害的样品制备过程，对固体物质的元素进行快速分析，为材料鉴定以及固体元素成分分析提供了一种快速可靠的方式。无论是微量还是高浓度，实验室还是生产线，这款台式激光诱导击穿光谱仪的激光诱导击穿光谱元素分析技术，都是研究人员，科学家以及测试技术人员为多种应用进行快速可靠的材料鉴定以及固体元素成分分析的理想选择。

　　作为全球精密仪器的供应商以及激光诱导击穿光谱（LIBS）技术的领导者，TSI公司还展示了新推出一款加固型手持LIBS元素分析仪，该设备主要被用于户外研究、质量控制和移动实验室等方面。ChemLogix™手持LIBS设备的主要特点是采用了对视力无害的1级短波红外线激光作为光源，既可去除典型样品表面的污染，而且也无需对使用人员进行任何特殊培训，也无需配备个人保护装备。使用ChemLogix™手持LIBS设备进行元素（包括轻元素）分析，操作简单，而且测试过程只需几秒钟，因此该设备是需求越来越高的现场及过程中质量监测的理想仪器。

　　LIBS是一种成熟完善的用于对固体进行快速元素分析的光谱分析方法。该技术几乎不需样品制备过程，而且在几秒钟之内就能获得结果。研究者在实验室中使用ChemReveal™LIBS台式分析仪时便发现了这种分析方法的发展潜能。而使用目前最新推出的手持式LIBS分析仪，无论是在现场还是生产车间，用户均可通过该设备快速获得结果。
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本文转载自“美国TSI”公众号