本文是讲解关于"TSI将参加第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会"的相关内容。
美国TSI公司将于2013年10月23日至26日参加在北京中国国际展览中心举办的“第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2013）“，展位号为二号馆22019号展台。
美国TSI公司将于展会上展示最新推出的新一代的ChemLogixTM系列元素分析解决方案产品线中的第一款产品：ChemRevealTM型台式激光诱导击穿光谱仪。其配备了先进的ChemLyticsTM等离子体发射光谱分析和元素分析软件，大大简化了复杂的元素分析过程，对每一个固体样品矩阵里的广泛的元素进行直接鉴定和分析。事实上，这个强大的全新的解决方案提供了对包括粉末，非晶或非导电材料固体样品中的有机物，轻元素，重元素进行同时表征，而且不需要繁琐的有害的样品制备过程，对固体物质的元素进行快速分析，为材料鉴定以及固体元素成分分析提供了一种快速可靠的方式。无论是微量还是高浓度，实验室还是生产线，这款台式激光诱导击穿光谱仪的激光诱导击穿光谱元素分析技术，都是研究人员，科学家以及测试技术人员为多种应用进行快速可靠的材料鉴定以及固体元素成分分析的理想选择。
美国TSI公司还将展示NanoScan SMPS 3910型纳米颗粒粒径谱测量仪，实时粒径测量，最小检测到10纳米粒径的颗粒，是现场快速检测的理想选择。
敬请大家届时光临TSI展位！
关于TSI公司
TSI公司研究、确定和解决各种测量问题，为全球市场服务。作为精密仪器设计和生产的行业领导者，TSI与世界各地的科研机构和客户合作，确立与气溶胶科学、气流、健康和安全、室内空气质量、流体力学及生物危害检测有关的测量标准。TSI总部位于美国，在欧洲和亚洲设有代表处，在其服务的全球各个市场建立了机构。每天，我们专业的员工都在把科研成果转化成现实。
读完："TSI将参加第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会"之后，相信您对粒子计数器,风速仪,粉尘检测仪等产品相关知识有了更多的了解。
本文转载自“美国TSI”公众号
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